학위논문(박사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학전공, 2006.8, [ xiii, 167 p. ]
device scaling; pinning voltage; pinned photodiode (PPD); four-transistor structure; CMOS image sensor; non full-depleted pinned photodiode (NFD-PPD); 전압 스케일링; 소자 스케일링; 피닝 전압; 핀드 포토다이오드; 4-트랜지스터 구조; 씨모스 이미지 센서
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