Showing results 1 to 2 of 2
Engineering of source/drain junctions in MOSFETs and its application to memory cells = MOSFET의 소스/드레인 전극의 엔지니어링 및 메모리 셀로의 응용link Choi, Sung-Jin; 최성진; et al, 한국과학기술원, 2012 |
In-depth study of reliability for charge-trap-type flash memory devices = 전하포획형 플래시 메모리 소자의 신뢰성에 관한 심층 연구link Park, Jong-Kyung; 박종경; et al, 한국과학기술원, 2014 |
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