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Modeling and measurement analysis of through silicon via (TSV) and defects = 실리콘 관통 비아 및 결함의 모델링과 측정 분석link Jung, Daniel Hyun-Suk; 정현석; et al, 한국과학기술원, 2013 |
Proposal of TSV-based 3D clock distribution networks and analysis = 관통 실리콘 비아 기반 3차원 클락 분배망에 관한 연구link Kim, Da-Young; 김다영; et al, 한국과학기술원, 2012 |
Scalable modeling of a through silicon via (TSV) channel & proposal of the TSV equalizers in 3D IC = 집적화된 3차원 IC에서의 관통 실리콘 비아 채널의 모델링 및 이퀄라이져에 관한 연구link Kim, Joo-Hee; 김주희; et al, 한국과학기술원, 2010 |
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