Browse "Dept. of Mathematical Sciences(수리과학과)" by Subject 결함 검사▼a반도체 영상▼a빠른 최소 공분산 행렬식 방법▼a신경망▼a이중 적합 방법▼a특이값 분해
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| Defect inspection in semiconductor images using statistical methods and neural networks = 통계적 방법과 신경망을 이용한 반도체 영상에서 결함 검사link Yu, Jinkyu; Lee, Chang-Ock; et al, 한국과학기술원, 2023 |
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- 2,106 Article
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