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ECR PECVD법을 이용한 ULSI DRAM Capacitor용 (Pb,La)(Zr,Ti)$O_3$ 박막의 제조 및 특성 평가 연구 = Fabrication and characterization of ECR PECVD (Pb,La)(Zr,Ti)$O_3$ thin films for the charge storage capacitors of ULSI DRAMlink 신중식; Shin, Joong-Shik; 이원종; 천성순; et al, 한국과학기술원, 1997 |
강유전체 박막 커패시터의 특성분석을 위한 물리적 모델링에 관한 연구 = A study on the physical modeling for the characterization of the ferroelectric thin film capacitorslink 김용일; Kim, Yong-Il; et al, 한국과학기술원, 2000 |
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