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A Study of Dual-Bit Nonvolatile Memory Characteristics by the Channel-Hot-Electron (CHEI) Program Mechanism for Double-Gate FinFET SONOS Cells 최양규; 류성완; 한진우; 김진수; 이광희; 이기성; 오재섭; et al, 제 15회 반도체 학술대회, pp.409 - 410, 2008 |
First Experimental Demonstration of Junctionless SiGe PMOS FinFETs on n-type Bulk-Si 김태균; 윤영광; 문정민; 문동일; 이기성; 이동욱; 황철해; et al, 제20회 한국반도체학술대회, 동부하이텍, 한국반도체산업협회, 한국반도체연구조합, 2013-02-05 |
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