표면검사를 위한 3차원 전영역 고분해능 초고속 광간섭단층촬영Three-dimensional depth-invariant high-resolution ultrahigh-speed optical coherence tomography for industrial surface inspection
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | Oh, WangYuhl | - |
| dc.contributor.author | 최영석 | - |
| dc.contributor.author | Choi, Young-Seok | - |
| dc.date.accessioned | 2024-07-30T19:30:29Z | - |
| dc.date.available | 2024-07-30T19:30:29Z | - |
| dc.date.issued | 2024 | - |
| dc.identifier.uri | http://library.kaist.ac.kr/search/detail/view.do?bibCtrlNo=1095982&flag=dissertation | en_US |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/321314 | - |
| dc.description | 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 기계공학과, 2024.2,[iii, 46 p. :] | - |
| dc.description.abstract | 광간섭단층촬영 기법에 대한 수요가 늘어나면서 해상도 향상에 대한 논의가 많았다. 하지만 광간섭단층촬영 기법 특성상 생기는 횡방향 해상도와 이미징 범위의 상충관계로 인해 근본적인 해상도 한계가 존재했다. 전산적응광학 및 간섭계 합성 개구 마이크로스코피와 같은 이미지 후처리 방법을 통해 해상도 향상을 달성하려는 시도가 있었으나 광원의 한계로 활용에 제한이 있었다. 본 연구에서는 빠른 반복률과 높은 위상 안정성을 동시에 확보하는 SPML레이저를 사용한 이미징 시스템에 전산 디포커스 및 수차 제거 알고리즘을 적용하여 3차원 전 영역에서 고해상도의 초고속 이미징이 가능한 표면 검사용 시스템을 개발하였다. | - |
| dc.language | kor | - |
| dc.publisher | 한국과학기술원 | - |
| dc.subject | Optical coherence tomography(OCT)▼aComputational Adaptive Optics(CAO)▼acomputational defocus correction▼aSPML Laser | - |
| dc.subject | 광간섭단층촬영▼a전산 적응 광학▼a전산 디포커스 제거▼aSPML 레이저 | - |
| dc.title | 표면검사를 위한 3차원 전영역 고분해능 초고속 광간섭단층촬영 | - |
| dc.title.alternative | Three-dimensional depth-invariant high-resolution ultrahigh-speed optical coherence tomography for industrial surface inspection | - |
| dc.type | Thesis(Master) | - |
| dc.identifier.CNRN | 325007 | - |
| dc.description.department | 한국과학기술원 :기계공학과, | - |
| dc.contributor.alternativeauthor | 오왕열 | - |
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- ME-Theses_Master(석사논문)
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