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1
3 Dimensional transmission line matrix (3D TLM) modeling and analysis of through silicon via (TSV) coupling in 3 dimensional integrated circuit (3D IC) = 3차원 전송선 매트릭스 방법을 이용한 3차원 집적회로에서 사용되는 실리콘 관통 비아의 잡음전달 현상에 대한 모델링 및 분석link

Cho, Jong-Hyun; 조종현; et al, 한국과학기술원, 2010

2
(A) Fault-tolerant scheme for TSV-based 3D network-on-chip = TSV기반 3D 네트워크-온-칩을 위한 결함-허용 기법link

Lee, Jae-Young; 이재영; et al, 한국과학기술원, 2013

3
Modeling and analysis of LC-VCO performance degradation and shielding for tsv noise coupling in 3D IC = 3차원 집적회로에서 실리콘 관통 비아의 잡음전달과 LC-VCO 성능 저하의 모델링 및 분석과 차폐에 대한 연구link

Lim, Jae-Min; 임재민; et al, 한국과학기술원, 2014

4
Modeling and analysis of noise coupling and RF sensitivity in through-silicon-via (TSV) silicon interposer = 실리콘 관통 비아 실리콘 인터포져에서의 노이즈 커플링 모델링과 RF감도 해석link

Yoon, Ki-Hyun; 윤기현; et al, 한국과학기술원, 2010

5
Modeling and analysis of power distribution network in 2.5D and 3D IC based on segmentation method and target impedance considering current spectrum = 구조분할 방법과 전류 스펙트럼에 기반한 목표 임피던스를 이용한 2.5차원/3차원 반도체에서 전력분배망의 모델링 및 분석link

Kim, Youngwoo; 김영우; et al, 한국과학기술원, 2015

6
Temperature-dependent through-silicon via (TSV) model and isolation characteristics = 온도에 의존하는 관통 실리콘 비아 모델과 아이솔레이션 특성link

Lee, Man-Ho; 이만호; et al, 한국과학기술원, 2012

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