다중 스폿 금속 증착형 나노 구조 배열 각막 디스트로피 진단용 핵산 칩 및 이 제조 방법Multi-Spot Metal-Capped Nanostructure Array Nucleic Acid Chip for Diagnosis of Corneal Dystrophy and Preparing Method Thereof

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본 발명은 다중 스폿(multi-spot) 금속 증착형 나노 구조 배열 각막 디스트로피 진단용 핵산 칩에 관한 것으로 더욱 상세하게는 국소 표면 플라즈몬 공명(localized surface plasmon resonance,LSPR) 광학 특성을 이용할 수 있는 다중 스폿 금속 증착형 나노 구조 배열 핵산 칩 및 이 제조 방법과 다종의 각막 디스트로피를 진단할 수 있는 BIGH3 유전자 돌연변이 진단용 다중 스폿 금속 증착형 나노 구조 배열 각막 디스트로피 진단용 핵산 칩에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 금속 증착형 나노 구조 배열 핵산 칩과 광원, 검출기, 분광 광도계 및 컴퓨터를 포함한 분석 장치를 결합함으로써 LSPR 광학 특성 기반 비표지 광학 바이오센서로서 응용이 가능한 뿐만 아니고 본 발명에 따른 BIGH3 유전자 돌연변이 진단용 다중 스폿 금속 증착형 나노 구조 배열 각막 디스트로피 진단용 핵산 칩을 이용하면 유전적 안과 질환이 다양한 종류의 각막 디스트로피를 한번에 진단할 수 있다.
Assignee
KAIST, AVELLINO CO LTD
Country
JA (Japan)
Issue Date
2014-01-10
Application Date
2010-08-18
Application Number
2012525483
Registration Date
2014-01-10
Registration Number
5453534
URI
http://hdl.handle.net/10203/229776
Appears in Collection
CBE-Patent(특허)
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