학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학부, 2016.8 ,[iv, 41 p. :]
NAND flash memory; SONOS; Gate-all-around; Junctionless transistor; Double-ended gate structure; Joule heat; Fowler-Nordheim erase; Thermal excitation; Self-Annealing; 낸드형 비휘발성 메모리; 전하 저장 기반의 비휘발성 메모리; 다중레벨 셀; 전계 방출 터널링; 줄열; 열적 여기 현상; 자가 어닐링; 자가치유
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