학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학과, 2015.2 ,[vi, 41 p :]
Wafer-level Test; High-speed Test; Probe Card; Probe Head; Crosstalk; 웨이퍼 레벨 테스트; 고속 테스트; 프로브카드; 프로브해드; 누화현상
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