무전해 Ni-P UBM과 95.5Sn-4.0Ag-0.5Cu 솔더와의 계면반응 및 신뢰성에 대한 연구A Study on the interfacial reactions electroless Ni-P UBM and 95.5Sn-4.0Ag-0.5Cu solder bump

Cited 0 time in webofscience Cited 0 time in scopus
  • Hit : 342
  • Download : 0
Publisher
한국 마이크로 전자 및 패키징학회
Issue Date
2002-05
Language
KOR
Citation

한국 마이크로 전자 및 패키징학회 2002년도 춘계 기술심포지움, pp.85 - 91

URI
http://hdl.handle.net/10203/135508
Appears in Collection
MS-Conference Papers(학술회의논문)
Files in This Item
There are no files associated with this item.

qr_code

  • mendeley

    citeulike


rss_1.0 rss_2.0 atom_1.0