PH-Patent(특허)

Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 121 to 140 of 459

121
발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 패키지

조용훈; 고석민; 유양석; 최성한

122
Optical detection system

Park, Yong Keun; Park, Hui Jun; Lee, Kyeo Reh; Shin, Seung Woo

123
스커미온 가이딩 소자 및 그 제조방법

김갑진; 송무준

124
Magnetic logic device

Park, Byong-Guk; Kim, Kab-Jin; Lee, Geun-hee

125
METHOD AND APPARATUS FOR THE PHASE RETRIEVAL AND VOLUMETRIC IMAGING RECONSTRUCTION

박용근; 백윤석

126
混沌波センサを利用した試料特性探知装置

박용근; 윤종희; 이겨레; 김영덕; 김남균

127
산란 공동을 이용한 고효율 직진성 비공진 레이저 및 그의 제조 방법

박용근; 이겨레

128
마이크로 LED 구조체, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 디스플레이

조용훈; 심영출; 우기영

129
Apparatus for Detecting Sample Properties Using Chaotic Wave Sensor

Park, Yong Keun; Yoon, JongHee; Lee, KyeoReh; Kim, Young Dug; Kim, Nam Kyun

130
OPTICAL DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Lee, Hansuek; Kim, Daegon; Han, Sangyoon; Hwang, Joonhyuk

131
전자기파 주파수 변환 장치

민범기; 이강희; 이서주; 백수정

132
저간섭성 광원과 다중 패턴 조명을 이용한 3차원 광회절 단층촬영 방법 및 장치

박용근; Herve Jerome Hugonnet

133
Bismuth calcium ferrites for electrolyte having high oxygen ionic mobility

Yang, Chan-Ho; Lim, Ji Soo

134
자구벽 논리소자 및 이의 제조방법

김갑진; 이근희

135
자구벽 논리소자 및 이의 제조방법

김갑진; 이근희

136
자기적 상태 변환 장치

이진환; 최석환

137
2D-3D heterojunction tunnel field-effect transistor

Cho, Sungjae

138
Pattern structure inspection device and inspection method

박용근; 박종찬

139
Correction pattern obtaining apparatus for correcting noise generated by optical element included in display and method of obtaining noise correction pattern using the same

Park, Yong Keun; Park, Jongchan; Seo, Wontaek; Song, Hoon; An, Jungkwuen

140
미생물 콜로니 검출 시스템

한승윤; 양승범; 박용근

Discover

Type

Date issued

rss_1.0 rss_2.0 atom_1.0