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| NO | Title, Author(s) (Publication Title, Volume Issue, Page, Issue Date) |
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| VCM을 이용한 나노 정밀도 스캐닝 용 초정밀 이중 스테이지 김기현; 권대갑; 최영만; 김동민; 남병욱; 이석원; 이문구, 한국정밀공학회지, v.22, no.5, pp.103 - 112, 2005-05 |
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- 1 Article