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각회전 QL 스캔 G-UPI 시스템 기반 원통형 구조 스캔 기술 연구

전무승; 김두환; 이정률; 홍승찬, JOURNAL OF THE KOREAN SOCIETY FOR NONDESTRUCTIVE TESTING, v.42, no.6, pp.487 - 495, 2022-12

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