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Defect detection on semiconductor wafers using image processing techniques = 이미지 기술을 이용한 반도체 웨이퍼의 결함 검사link Jeong, Seong Jin; Lee, Chang-Ock; et al, 한국과학기술원, 2020 |
선형계획문제의 강성다항식 계산단계 기법에 관한 연구 정성진; 강완모; 정의석; 허홍석, 대한산업공학회지, v.19, no.4, pp.3 - 11, 1993-11 |
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