Showing results 1 to 2 of 2
Gate bias induced degradation in hydrogenated amorphous silicon thin film transistors = 수소화된 비정질 실리콘 박막 트랜지스터에서 게이트 바이어스에 의해 생성되는 열화현상에 대한 연구link Hwang, Chi-Sun; 황치선; Shin, Sung-Chul; Lee, Choo-Chon; et al, 한국과학기술원, 1996 |
수소 희석이 수소화된 비정질 규소의 증착 과정에 미치는 영향에 관한 연구 = The effects of hydrogen dilution on deposition of hydrogenated amorphous siliconlink 황치선; Hwang, Chi-Sun; et al, 한국과학기술원, 1993 |
Discover