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(An) advanced statistical model for the lifetime prediction due to electromigration failure and an improved fast method for the reliability evaluation in metal lines = Electromigration으로 단선되는 금속배선의 수명을 예측하기 위한 진보된 통계적 모델링과 신뢰성 측정 방법 개선에 관한 연구link Park, Jong-Ho; 박종호; Ahn, Byung-Tae; 안병태, 한국과학기술원, 2003 | |
Studies on solder bumps coining processes and reliability of assembled flip chip = 솔더 범프 코이닝 공정 및 플립칩 접속 후 신뢰성에 관한 연구link Nah, Jae-Woong; 나재웅; Paik, Kyung-Wook; 백경욱, 한국과학기술원, 2004 | |
(A) Study on the Reliability of VLSI Nano-Interconnections = VLSI 나노배선의 신뢰성에 관한 연구link Lee, Min-Hyung; 이민형; Paik, Kyung-Wook; 백경욱, 한국과학기술원, 2010 | |
β-Sn grain orientations in Pb-free solders and their effect on the reliability of solder joints = 무연 솔더의 β-Sn 결정립 방향성과 솔더 조인트 신뢰성에 미치는 영향link Seo, Sun-Kyoung; 서선경; Lee, Hyuck-Mo; 이혁모, 한국과학기술원, 2010 |
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