Magneto optical image를 이용한 coated conductor의 field profile 측정

Abstract

초전도 선재를 연구하는 이들에 의해 MOI 방식이 이용되어 그동안 coated conductor에서의 자기장의 침투양상을 분석하는 시도는 꾸준히 이루어져 왔다. 광학장비를 이용하는 MOI 방식은 Bi:YIG 인디케이터 필름을 이용하여 실험이 행해진다. 광학장비의 분해능을 좋게 하기 위해서 이미지를 얻는 실험의 전 과정은 진공 챔버안에서 실험이 이루어졌다. coated conductor 샘플 근처의 온도는 83~85K로 유지 되었으며, AMSC(model 344S)사의 RABiTS coated conductor와 KERI(한국 전기 연구원)와 본 연구실이 공동연구를 통해서 제작한 IBAD coated conductor가 실험에 사용되었다. 실험에 사용된 coated conductor 샘플의 넓이는 4mm,길이는 75mm로 AMSC사의 RABiTS 샘플의 경우 MOI 이미지를 얻기 위해 실버층위에 덮혀 있던 구리층이 제거되었다. coated conductor 샘플의 가장자리에서는 이론적으로 브랜트에 의해 확인이 된 특별한 자기 플럭스의 침투 양상이 관찰되었고, 임의의 디펙트를 준 샘플의 영역에서는 다른 MOI(Magneto Optical Image) 이미지를 얻을 수 있었다.