DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 윤준보 | ko |
dc.contributor.author | 김태수 | ko |
dc.contributor.author | 김수현 | ko |
dc.contributor.author | 이용복 | ko |
dc.contributor.author | 최판규 | ko |
dc.date.accessioned | 2024-01-15T03:01:19Z | - |
dc.date.available | 2024-01-15T03:01:19Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/317810 | - |
dc.description.abstract | 본 발명은 접촉하는 두 표면 사이의 점착력을 예측하기 위하여 나노어스페리티의 순차적인 접촉 분석을 이용한 방법 및 이를 수행하기 위한 프로그램을 기록한 기록 매체에 관한 것이다. 본 발명의 실시 형태에 따른 점착력 예측 방법은, 두 대상 물체의 점착력을 예측하는 방법으로서, 상기 두 대상 물체 각각의 표면 거칠기 데이터를 수신하는 수신 단계; 상기 표면 거칠기 데이터에 기초하여 첫번째 나노-어스페리티의 접촉이 이루어진 굴곡 표면을 모델링하는 모델링 단계; 상기 모델링에서 상기 두 대상 물체의 접촉이 발생된 경우의 점착력 값과 상기 첫번째 나노-어스페리티의 변형 값을 연산하는, 연산 단계; 상기 첫번째 나노-어스페리티의 변형 값과 바로 다음에 접촉될 다음 나노-어스페리티의 이격 거리를 비교하여 다음의 접촉이 성립되는지 여부를 판별하는, 판별 단계; 상기 첫번째 나노-어스페리티의 변형 값이 상기 다음 나노-어스페리티의 이격 거리보다 크면 상기 연산 단계와 상기 판별 단계를 반복 수행하는, 반복 단계; 상기 첫번째 나노-어스페리티의 변형 값이 상기 다음 나노-어스페리티의 이격 거리보다 작으면, 다음 접촉은 성립되지 않는 것으로 판별하고, 최종 접촉 상황에서의 최종 점착력을 연산하여 출력하는, 최종 점착력 연산 단계;를 포함한다. | - |
dc.title | 나노 어스페리티의 순차적인 접촉 분석을 이용한 점착력 예측 방법 및 이를 수행하기 위한 프로그램을 기록한 기록 매체 | - |
dc.title.alternative | METHOD FOR ADHESION FORCE PREDICTION THROUGH SEQUENTIAL CONTACT ANALYSIS OF NANO-ASPERITY AND RECORDING MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PERFORMING THE METHOD | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 윤준보 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2021-0108818 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2605635-0000 | - |
dc.date.application | 2021-08-18 | - |
dc.date.registration | 2023-11-20 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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