DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 이창희 | ko |
dc.contributor.author | 신상영 | ko |
dc.contributor.author | 추광욱 | ko |
dc.date.accessioned | 2022-12-20T01:01:38Z | - |
dc.date.available | 2022-12-20T01:01:38Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/303240 | - |
dc.description.abstract | 【要約】 【課題】 本発明は光通信技術に係り、特に光アンプを用いる光通信での光信号対雑音比を測定する装置及び方法を提供する。 【解決手段】 本発明においての光信号対雑音比測定装置は、光アンプの出力光が入力されると透過波長と一致する波長の前記出力光を通過させる帯域通過光可変フィルタと;前記帯域通過光可変フィルタを通過した光を四つに分配する1×4光分配器と;前記分配された四つの光からストークス媒介変数S0,S1,S2,S3を求めるストークス媒介変数測定手段と;前記ストークス媒介変数から前記光アンプの出力光のうち偏光された成分の強さを測定し光信号の強さを求める光信号の強さの測定手段と;前記ストークス媒介変数S0と前記光信号の強さとを用いて前記光アンプの出力光に含まれた雑音の強さを求める雑音の強さ測定手段と;及び前記光アンプの光信号の強さと雑音の強さとを用いて透過波長に対する光信号の強さ/雑音の強さを求める除算手段とを含む。 | - |
dc.title | 光信号対雑音比を測定する装置及び方法 | - |
dc.title.alternative | 광신호 대 잡음비를 측정하는 장치 및 방법 | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 이창희 | - |
dc.contributor.localauthor | 신상영 | - |
dc.contributor.assignee | KAIST | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 2000314293 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 3569217 | - |
dc.date.application | 2000-10-13 | - |
dc.date.registration | 2004-06-25 | - |
dc.publisher.country | JA | - |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.