수직 트랜지스터 소오스(또는 드레인)와 벌크 영역 내의 트랩 전하를 완전히 제거하기 위한 방법Method for complete removal of trapped charges in the source(or drain) and bulk region of vertical transistors

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본 발명에서 수직 트랜지스터의 스위치 특성과 수직 트랜지스터의 성능을 월등히 향상시킬 수 있는 수직 트랜지스터 소오스(또는 드레인)와 벌크 영역 내의 트랩 전하를 완전히 제거하기 위한 방법을 개시한다. 본 발명에 따른 방법은, a) 기판의 전면에 소오스/채널/드레인 형성을 위한 불순물을 주입하고, 불순물을 활성화하는 단계; b) 감광막 패턴과 건식 식각법을 이용하여 수직 트랜지스터 형성용 필러(pillar) 또는 실리콘 기둥을 웨이퍼 전면에 형성하는 단계; c) 상기 기판 전면에 산화 막을 CVD방법으로 증착하고 CMP 방법으로 광역 평탄화하는 단계; d) 상기 기판의 전면에 있는 산화 막을 건식 식각 법으로 에치백(etchback) 하고, 기판의 전면에 열 산화 막을 적정두께로 성장시킨 후, 드레인 단자가 노출되는 단계까지 etchback 하여 게이트 전극을 형성하는 단계; e) 산화 막 이나 질화 막을 증착 하고 CMP 공정으로 광역 평탄화하고, 콘택 홀을 형성하는 단계; f) etchback하여 콘택 금속을 형성하고, 감광막 패턴과 건식 식각 법을 이용하여 금속 층을 형성하는 단계로 이루어진다. 수직, 트랜지스터, 트랩, 전하, 제거, 불순물, 에치백, 콘택 금속
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Application Date
2008-08-11
Application Number
10-2008-0078664
Registration Date
2010-09-28
Registration Number
10-0985107-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/302527
Appears in Collection
RIMS Patents
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