인쇄회로기판의통전검사용탐침장치PROBING DEVICE TO TEST THE ELECTRICAL CONNECTION OF PCB
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 심재홍 | ko |
| dc.contributor.author | 조형석 | ko |
| dc.date.accessioned | 2022-12-10T05:00:19Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-10T05:00:19Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/302512 | - |
| dc.description.abstract | 인쇄회로기판의 통전검사용 탐침장치가 개시된다. 본 발명에 의한 탐침장치는, 인쇄회로기판의 납땜부 표면에 대한 통전검사용 탐침 팁의 접촉 입사각을 자유롭게 조정할 수 있도록 된 위치측정 및 조정수단을 구비하여 납땜부의 표면에 대한 탐침 팁의 입사각 및 접촉힘을 적절하게 조정할 수 있도록 구성된다. 이러한 구성의 특징에 의하면, 납땜불량 및 탐침 팁의 진동을 방지하여 안정된 통전검사를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 납땜부의 다양한 표면형상에 대해 적응성이 향상된 인쇄회로기판의 통전검사용 탐침장치를 제공할 수가 있다. | - |
| dc.title | 인쇄회로기판의통전검사용탐침장치 | - |
| dc.title.alternative | PROBING DEVICE TO TEST THE ELECTRICAL CONNECTION OF PCB | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 조형석 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 심재홍 | - |
| dc.contributor.assignee | 삼성전자주식회사,한국과학기술연구원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-1996-0029018 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0207737-0000 | - |
| dc.date.application | 1996-07-18 | - |
| dc.date.registration | 1999-04-13 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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