기억과 이해능력의 input 지수와, 논리와 평가능력의 output 지수를 고려한 심층적 영재 판별과영재성 패턴 분석 및 영재 지수화 방법Method for identifying network structure ofgiftedness, anlayizing giftedness pattern, andgenerating giftedness quotients based on the INPUTcapability of memorization and cognition and on theOUTPUT capability of logic and evaluation

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dc.contributor.author박상찬ko
dc.contributor.author김태현ko
dc.contributor.author홍계항ko
dc.date.accessioned2022-12-09T09:01:49Z-
dc.date.available2022-12-09T09:01:49Z-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/302410-
dc.description.abstract본 발명은 기억과 이해능력의 input 지수, 논리와 평가 능력의 output 지수를 고려한 심층적 영재 판별과 영재성 패턴 분석 및 영재 지수화 방법에 관한 것이다. 특히, 영재 판별을 위한 다양한 영역(기억,이해,논리,평가)들의 검사 수행 결과를 근간으로 영재를 판별하고, 부족한 영재 능력을 진단하여 영재아의 영재 교육 방향을 제시하기 위한 방법론을 개발하고, 이를 이용한 영재 판별 시스템을 개발하기 위한 기술에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 영재 판별을 위한 영재 검사 결과의 각 영역에 대한 표준화된 점수를 사전 처리하는 제 1단계와; 상기 사전처리 후 각 영역의 표준화된 점수를 전체 영역으로 군집 분석하는 제 2단계와; 상기 군집분석 후 영재 지수를 산출하는 제 3단계와; 상기 산출된 영재 지수를 바탕으로 영재성을 해석하는 제 4단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명에서는 영역 특성에 따라 다양한 그룹으로 나누고, 단순 합계가 아닌 각 영역들의 가중치가 고려된 지수를 산출한다. 이는 영재 판별 후에도 어떤 특성이 강하고 약한지를 비교하여 영재 교육에 활용할 수 있다. 영재 판별 도구, 데이터마이닝, 영재 판별 시스템, 영재 지수-
dc.title기억과 이해능력의 input 지수와, 논리와 평가능력의 output 지수를 고려한 심층적 영재 판별과영재성 패턴 분석 및 영재 지수화 방법-
dc.title.alternativeMethod for identifying network structure ofgiftedness, anlayizing giftedness pattern, andgenerating giftedness quotients based on the INPUTcapability of memorization and cognition and on theOUTPUT capability of logic and evaluation-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.nonIdAuthor김태현-
dc.contributor.nonIdAuthor홍계항-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2003-0034634-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-0531432-0000-
dc.date.application2003-05-30-
dc.date.registration2005-11-21-
dc.publisher.countryKO-
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