다광자 현미경, 그리고 이의 시간 게이트 검출 기반 이미징 방법MULTI PHOTON MICROSCOPY, IMAGING METHOD USING TIME-GATED DETECTION THEREOF

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다광자 여기(Multi-photon excitation)를 이용하여 시료의 형광 물질을 여기하는 다광자 현미경으로서, 펄스레이저에서 출력된 광펄스열을 시간 게이트 검출(time-gated detection)을 위한 반복률로 낮추는 반복률 가변기, 상기 반복률 가변기로부터 전달된 광펄스열을 X축 및 Y축 방향으로 스캐닝하는 스캐너, 상기 스캐너에 의해 스캐닝된 광신호를 시료로 조사하고, 여기된 형광 물질에서 방출되는 형광 신호를 획득하는 대물렌즈, 상기 대물렌즈를 통해 획득한 형광 신호를 광전변환하는 광검출기, 상기 광검출기에서 출력된 전류 신호를 전압 신호로 변환하는 증폭기, 상기 증폭기에서 출력되는 전압 신호를 샘플링하는 디지타이저 (Digitizer), 그리고 상기 디지타이저에서 출력된 샘플링 데이터를 시간 영역에 설정된 검출 윈도우로 분리하고, 상기 검출 윈도우로 분리된 샘플링 데이터를 기초로 이미지를 생성하는 컴퓨팅 장치를 포함한다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Application Date
2020-04-17
Application Number
10-2020-0046708
Registration Date
2022-05-23
Registration Number
10-2402681-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/296692
Appears in Collection
ME-Patent(특허)
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