DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.advisor | 최한림 | - |
dc.contributor.advisor | Choi, Han-Lim | - |
dc.contributor.author | 정상한 | - |
dc.date.accessioned | 2022-04-27T19:32:40Z | - |
dc.date.available | 2022-04-27T19:32:40Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.uri | http://library.kaist.ac.kr/search/detail/view.do?bibCtrlNo=948390&flag=dissertation | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/296244 | - |
dc.description | 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 지식재산대학원프로그램, 2021.2,[iv, 42 p. :] | - |
dc.description.abstract | 주사탐침 현미경, 특히 원자간력 현미경은 미세화 되는 구조 분석과 물리화학적 분석에 필요성이 증가하고 있는 기초 계측기술이다. 주사탐침 현미경을 사용한 연구의 영역은 반도체를 비롯, 재료공학, 생물학 등 다양한 학제분야에서 사용되고 있다. 본 논문에서는 지식재산권과 연계가 있는 특허의 서지적 정보와 논문의 서지 정보, 그리고 표준 정보의 분석을 통해 주사 탐침 현미경의 연구 및 활용과 기술 개발 현황을 파악해 보고자 한다. | - |
dc.language | kor | - |
dc.publisher | 한국과학기술원 | - |
dc.subject | 주사탐침 현미경▼a원자간력 현미경▼a서지적 정보▼a특허▼a표준▼a논문 | - |
dc.subject | Scanning probe Microscopy▼aAtomic Force Microscopy▼abibliographic data▼apatents▼astandards▼apublications | - |
dc.title | 주사탐침 현미경 기술 분야에서의 지식재산 연관 서지 정보 분석을 통한 연구 | - |
dc.title.alternative | Empirical analysis in scanning probe microscopy technological field using intellectual property related bibliographic data | - |
dc.type | Thesis(Master) | - |
dc.identifier.CNRN | 325007 | - |
dc.description.department | 한국과학기술원 :지식재산대학원프로그램, | - |
dc.contributor.alternativeauthor | Chung, Sang-Han | - |
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