테라헤르츠 신호를 이용한 샘플의 두께 측정 방법METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF SAMPLE USING TERAHERTZ SIGNAL

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dc.contributor.author김수현ko
dc.contributor.author김경수ko
dc.contributor.author이진우ko
dc.contributor.author서민석ko
dc.contributor.author전영민ko
dc.contributor.author부준호ko
dc.contributor.author정유진ko
dc.date.accessioned2021-11-03T06:52:55Z-
dc.date.available2021-11-03T06:52:55Z-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/288719-
dc.description.abstract본 발명에서 제1 기준 신호는 수분과 같은 극성 분자가 존재하지 않는 기준 공기 중에서 단지 1회만 획득하면 충분하고, 제2 기준 신호 및 샘플 신호는 수분과 같은 극성 분자가 존재하는 일반 공기 중에서 획득되는 신호이며, 이와 같은 본 발명에 의하면 샘플의 두께 측정 시마다 반드시 건조 공기나 질소 공기를 조성해야만 하는 종래 방법에 비해 샘플의 두께 측정이 간편하고, 샘플 두께의 측정 시간 또한 크게 단축시킬 수 있는 이점이 있다.-
dc.title테라헤르츠 신호를 이용한 샘플의 두께 측정 방법-
dc.title.alternativeMETHOD FOR MEASURING THICKNESS OF SAMPLE USING TERAHERTZ SIGNAL-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor김수현-
dc.contributor.localauthor김경수-
dc.contributor.nonIdAuthor이진우-
dc.contributor.nonIdAuthor서민석-
dc.contributor.nonIdAuthor전영민-
dc.contributor.nonIdAuthor부준호-
dc.contributor.nonIdAuthor정유진-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2020-0018049-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-2314842-0000-
dc.date.application2020-02-14-
dc.date.registration2021-10-13-
dc.publisher.countryKO-
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ME-Patent(특허)
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