DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 김수현 | ko |
dc.contributor.author | 김경수 | ko |
dc.contributor.author | 이진우 | ko |
dc.contributor.author | 서민석 | ko |
dc.contributor.author | 전영민 | ko |
dc.contributor.author | 부준호 | ko |
dc.contributor.author | 정유진 | ko |
dc.date.accessioned | 2021-11-03T06:52:55Z | - |
dc.date.available | 2021-11-03T06:52:55Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/288719 | - |
dc.description.abstract | 본 발명에서 제1 기준 신호는 수분과 같은 극성 분자가 존재하지 않는 기준 공기 중에서 단지 1회만 획득하면 충분하고, 제2 기준 신호 및 샘플 신호는 수분과 같은 극성 분자가 존재하는 일반 공기 중에서 획득되는 신호이며, 이와 같은 본 발명에 의하면 샘플의 두께 측정 시마다 반드시 건조 공기나 질소 공기를 조성해야만 하는 종래 방법에 비해 샘플의 두께 측정이 간편하고, 샘플 두께의 측정 시간 또한 크게 단축시킬 수 있는 이점이 있다. | - |
dc.title | 테라헤르츠 신호를 이용한 샘플의 두께 측정 방법 | - |
dc.title.alternative | METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF SAMPLE USING TERAHERTZ SIGNAL | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 김수현 | - |
dc.contributor.localauthor | 김경수 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 이진우 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 서민석 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 전영민 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 부준호 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 정유진 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2020-0018049 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2314842-0000 | - |
dc.date.application | 2020-02-14 | - |
dc.date.registration | 2021-10-13 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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