미세 패턴 내에 증착된 리튬의 전착밀도 측정기술density measurement technology of lithium deposited in fine pattern
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 홍승범 | ko |
| dc.contributor.author | 박건 | ko |
| dc.date.accessioned | 2021-03-11T04:30:20Z | - |
| dc.date.available | 2021-03-11T04:30:20Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/281474 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 미세 패턴 내에 증착된 리튬의 전착밀도 측정기술에 관한 것으로서, 더욱 자세하게는 AFM(Atomic Force Microscopy) 영상화 시스템 준비 단계; 금속 전극에 전착된 리튬의 탄성계수를 맵핑하는 단계; 및 상기 맵핑을 통해 금속 전극에 전착된 리튬의 전착밀도를 계산하는 단계;를 포함하는, 리튬 전극 물성 측정방법에 관한 것이다. | - |
| dc.title | 미세 패턴 내에 증착된 리튬의 전착밀도 측정기술 | - |
| dc.title.alternative | density measurement technology of lithium deposited in fine pattern | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 홍승범 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박건 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2019-0043168 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2225458-0000 | - |
| dc.date.application | 2019-04-12 | - |
| dc.date.registration | 2021-03-03 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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