테라헤르츠 시간 영역 분광을 이용한 샘플의 두께 및 굴절률 측정 방법METHOD FOR MEASURING THICKNESS AND REFRACTIVE INDEX OF SAMPLE USING TERAHERTZ TIME-DOMAIN SPECTROSCOPY
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김수현 | ko |
| dc.contributor.author | 이진우 | ko |
| dc.contributor.author | 정유진 | ko |
| dc.contributor.author | 엄상우 | ko |
| dc.contributor.author | 서은교 | ko |
| dc.contributor.author | 전영민 | ko |
| dc.date.accessioned | 2020-12-04T07:11:26Z | - |
| dc.date.available | 2020-12-04T07:11:26Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/278083 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 일반 공기에 흡수되는 양을 정의하는 흡수 계수가 0에 가깝도록 만드는 테라헤르츠 신호의 주파수들을 획득하고, 이러한 주파수들로 이루어진 주파수 세트를 이용하여 샘플의 두께 및 굴절률을 측정하도록 구성되어 있기 때문에, 수분과 같은 극성 분자들이 존재하는 일반 공기 중에서도 샘플의 두께 및 굴절률의 동시 측정 및 정확한 측정이 가능하다. | - |
| dc.title | 테라헤르츠 시간 영역 분광을 이용한 샘플의 두께 및 굴절률 측정 방법 | - |
| dc.title.alternative | METHOD FOR MEASURING THICKNESS AND REFRACTIVE INDEX OF SAMPLE USING TERAHERTZ TIME-DOMAIN SPECTROSCOPY | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 김수현 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이진우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 정유진 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 엄상우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 서은교 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 전영민 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2019-0065802 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2175532-0000 | - |
| dc.date.application | 2019-06-04 | - |
| dc.date.registration | 2020-11-02 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
- Appears in Collection
- ME-Patent(특허)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.