DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 나노종합기술원 | ko |
dc.contributor.author | 윤석오 | ko |
dc.contributor.author | 권순재 | ko |
dc.contributor.author | 유형준 | ko |
dc.contributor.author | 조한원 | ko |
dc.contributor.author | 이태재 | ko |
dc.contributor.author | 박종철 | ko |
dc.date.accessioned | 2019-09-23T01:20:13Z | - |
dc.date.available | 2019-09-23T01:20:13Z | - |
dc.date.issued | 2019-09-17 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/267622 | - |
dc.description.abstract | 본 발명은 임피던스 측정장치 및 이를 이용한 측정방법에 관한 것으로, 임피던스를 측정하고자 하는 대상체를 향해 정현파를 발생시키는 정현파 발생유닛; 상기 정현파 발생유닛으로부터 발생된 정현파를 상기 대상체에 인가한 신호를 측정하는 센서유닛; 및 상기 대상체로부터 측정된 정현파를 분석하여 임피던스를 측정하기 위한 복조유닛; 을 포함하여, 구조가 단순하고 추가적인 부품 소요가 없으며 전력 소모가 적은 임피던스 측정장치 및 이를 이용한 측정방법에 관한 것이다. | - |
dc.title | 임피던스 측정장치 및 이를 이용한 측정방법 | - |
dc.title.alternative | IMPEDANCE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD USING THE SAME | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 윤석오 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 권순재 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 유형준 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 조한원 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 이태재 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 박종철 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2017-0168576 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2023887-0000 | - |
dc.date.application | 2017-12-08 | - |
dc.date.registration | 2019-09-17 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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