반도체 결함의 크기 검출을 위한 스케일 바 단위 인식 방법
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 주용민 | ko |
| dc.contributor.author | 이혁재 | ko |
| dc.contributor.author | 안일구 | ko |
| dc.contributor.author | 유형원 | ko |
| dc.contributor.author | 김성수 | ko |
| dc.contributor.author | 김규용 | ko |
| dc.contributor.author | 이득년 | ko |
| dc.contributor.author | 김창익 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T20:52:05Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T20:52:05Z | - |
| dc.date.created | 2013-06-24 | - |
| dc.date.issued | 2013-06-01 | - |
| dc.identifier.citation | 한국멀티미디어학회 춘계학술발표대회 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/258260 | - |
| dc.language | Korean | - |
| dc.publisher | 한국멀티미디어학회 | - |
| dc.title | 반도체 결함의 크기 검출을 위한 스케일 바 단위 인식 방법 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.citation.publicationname | 한국멀티미디어학회 춘계학술발표대회 | - |
| dc.identifier.conferencecountry | KO | - |
| dc.identifier.conferencelocation | 대전 | - |
| dc.contributor.localauthor | 김창익 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 주용민 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이혁재 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 안일구 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 유형원 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김성수 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김규용 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이득년 | - |
- Appears in Collection
- EE-Conference Papers(학술회의논문)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.