비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템Vision Inspection System for Color Defect Detection in Flat Panel Displays
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김민혁 | ko |
| dc.contributor.author | 남길주 | ko |
| dc.contributor.author | 이해봄 | ko |
| dc.contributor.author | 임정묵 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T17:37:00Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T17:37:00Z | - |
| dc.date.issued | 2018-02-27 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/256764 | - |
| dc.description.abstract | 비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 불량 검출 방법은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 불량 검출 방법은 디스플레이의 색 신호를 색 공간의 색 좌표 값으로 변환하는 단계; 상기 변환된 색 좌표 값을 미리 결정된 이미지 외양 모델(image appearance model)의 색 벡터로 맵핑하는 단계; 및 상기 맵핑된 색 벡터와 미리 결정된 기준 디스플레이의 기준 색 벡터 간의 차이에 기초하여 상기 디스플레이의 불량 여부를 검출하는 단계를 포함한다. | - |
| dc.title | 비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템 | - |
| dc.title.alternative | Vision Inspection System for Color Defect Detection in Flat Panel Displays | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 김민혁 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이해봄 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 임정묵 | - |
| dc.contributor.assignee | 엘지전자 주식회사,한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2015-0149762 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1834812-0000 | - |
| dc.date.application | 2015-10-27 | - |
| dc.date.registration | 2018-02-27 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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