비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템Vision Inspection System for Color Defect Detection in Flat Panel Displays

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dc.contributor.author김민혁ko
dc.contributor.author남길주ko
dc.contributor.author이해봄ko
dc.contributor.author임정묵ko
dc.date.accessioned2019-04-15T17:37:00Z-
dc.date.available2019-04-15T17:37:00Z-
dc.date.issued2018-02-27-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/256764-
dc.description.abstract비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 불량 검출 방법은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 불량 검출 방법은 디스플레이의 색 신호를 색 공간의 색 좌표 값으로 변환하는 단계; 상기 변환된 색 좌표 값을 미리 결정된 이미지 외양 모델(image appearance model)의 색 벡터로 맵핑하는 단계; 및 상기 맵핑된 색 벡터와 미리 결정된 기준 디스플레이의 기준 색 벡터 간의 차이에 기초하여 상기 디스플레이의 불량 여부를 검출하는 단계를 포함한다.-
dc.title비전 검사를 이용한 디스플레이 불량 검출 방법 및 시스템-
dc.title.alternativeVision Inspection System for Color Defect Detection in Flat Panel Displays-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor김민혁-
dc.contributor.nonIdAuthor이해봄-
dc.contributor.nonIdAuthor임정묵-
dc.contributor.assignee엘지전자 주식회사,한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2015-0149762-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1834812-0000-
dc.date.application2015-10-27-
dc.date.registration2018-02-27-
dc.publisher.countryKO-
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CS-Patent(특허)
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