시간 오프셋 기반 자가 표본화 기법들을 이용한 임피던스 크기 측정 회로 및 이를 이용한 임피던스 크기 및 위상 측정 장치

Abstract

시간 오프셋 기반 자가 표본화 기법들을 이용한 임피던스 크기 및 위상 측정 장치가 개시된다. 기준 저항과 측정 대상 세포에 각각 나타나는 기준 신호 및 세포 신호로부터 두 비교기를 이용하여 두 가지 클락 신호를 얻고, 그 클락 신호들을 XOR 또는 XNOR 연산을 하여 임피던스의 위상을 측정한다. 소정 주파수 미만의 신호가 인가되는 경우에는 그 두 클락 신호를 이용하여 기준 신호와 물질 신호의 표본화를 수행한다. 소정 주파수 이상의 신호가 인가되었을 경우, 직류 적분기들과 비교기들과 로직 회로들을 이용하여 생성한 클락 신호들을 통해 표본화를 수행하여 임피던스의 크기를 측정한다. 원하는 모든 주파수 영역에 대하여, 직류 적분기들과 비교기들과 로직 회로들을 통하여 생성한 클락 신호들을 통해 표본화를 수행하여 임피던스의 크기를 측정할 수도 있다. 본 발명은 빠른 외부 클락 신호 없이 자체적으로 생성하는 클락신호들을 이용하며, 이용된 커패시턴스를 최소화함으로써 저전력 동작 및 장치의 소형화를 달성한다.