곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법HIGH TEMPERATURE STRUCTURE FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE, SYSTEM FOR MEASURING OF PROPERTIES OF CURVED THERMOELECTRIC DEVICE USING THE SAME AND METHOD THEREOF
본 발명은 관형 폐열원에 적용하기 위한 곡면형 중온 열전 소자의 연구에 있어서 곡면형 열전 소자의 특성을 정확하게 측정할 수 있는 곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 곡면형 열전 소자의 특성을 측정하기 위한 고온 구조체에 있어서, 봉형태인 복수개의 카트리지 히터; 및 상기 곡면형 열전 소자의 하단에 접하는 곡면인 표면을 구비하고, 상기 복수개의 카트리지 히터를 수용하기 위한 복수개의 홀을 구비하며, 상기 곡면형 열전 소자의 하단을 직접 가열하는 발열체를 포함한다.
- Assignee
- 한국에너지기술연구원,한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2018-09-06
- Application Date
- 2016-12-16
- Application Number
- 10-2016-0172455
- Registration Date
- 2018-09-06
- Registration Number
- 10-1898037-0000
- Appears in Collection
- EE-Patent(특허)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.