현미경 시스템 및 형광수명시간을 측정하는 방법A MICORSCOPY SYSTEM AND A METHOD FOR MEASURING FLUIRESCENCE LIFETIME
일 실시예에 따른 현미경 시스템은, 빛을 방출하는 레이저 광원, 상기 레이저 광원에서 방출된 빛을 통과시키고 시편을 향하는 방향으로 상기 빛의 초점을 형성시키는 대물렌즈, 상기 시편에서 반사된 빛을 검출하는 적어도 하나의 광 검출기 및 상기 광 검출기에서 검출된 빛의 신호를 통하여 영상을 복원할 수 있는 제어부를 포함하고, 상기 시편으로부터 반사된 빛의 평균 지연 시간을 이중으로 검출함으로써 형광수명시간(Tfl)을 측정한다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2018-10-25
- Application Date
- 2017-08-01
- Application Number
- 10-2017-0097688
- Registration Date
- 2018-10-25
- Registration Number
- 10-1913957-0000
- Appears in Collection
- ME-Patent(특허)
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