Showing results 1 to 2 of 2
반도체 감사공정의 생산성향상 모형 = A model of productivity improvement for the semiconductor test processlink 남동윤; Nam, Dong-Youn; et al, 한국과학기술원, 1999 |
반도체 세대교체와 검사공정의 역할 = Semiconductor generation management and the role of test engineeringlink 초종복; Tcho, Jong-Bok; et al, 한국과학기술원, 2000 |
Discover