광신호의 성능 감시 방법에 관하여 개시한다. 본 발명의 방법은, 변조된 광신호의 성능을 감시하기 위하여, 광신호를 코히어런트 믹싱을 통해 수신하고, 비동기식 지연 탭 샘플링 기술을 이용하여 샘플링된 표본들의 크기 히스토그램으로부터 구해진 크기 품질지수와 위상 히스토그램으로부터 구해진 위상 품질지수로부터 광신호의 비트오율을 감시하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 광신호의 크기와 위상에 대한 정보를 모두 수집하여 잡음 분포를 분석하여 비트 오율을 감시하므로 변조 방식에 관계없이, 즉 세기변조방식, 위상변조 또는 QAM 방식의 광신호의 비트 오율을 감시할 수 있다.