복제방지 라벨의 제조 및 진위 판별방법Preparation of antiforgery label from randomly distributed nano and microscale objects and authenticity verification method

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dc.contributor.author이효철ko
dc.contributor.author김장배ko
dc.date.accessioned2017-12-20T12:30:14Z-
dc.date.available2017-12-20T12:30:14Z-
dc.date.issued2011-03-15-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/235893-
dc.description.abstract본 발명은 방향성을 갖는 특정 표적위에 분산된 임의의 패턴을 이용한 복제방지 라벨과 이의 제조방법 및 진위 판별방법에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명은 기재 상에 나노 또는 마이크로 크기의 와이어(nano/micro wire), 나노 또는 마이크로 크기의 입자(nano/micro particle) 및 이들의 혼합물로부터 선택되는 분산체가 임의로 분산된 분산패턴과, 상기 분산패턴의 상하, 좌우의 관측 기준이 되는 방향과 위치를 나타내는 표적패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 복제방지 라벨에 관한 것이다.-
dc.title복제방지 라벨의 제조 및 진위 판별방법-
dc.title.alternativePreparation of antiforgery label from randomly distributed nano and microscale objects and authenticity verification method-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor이효철-
dc.contributor.nonIdAuthor김장배-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2009-0064423-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1024042-0000-
dc.date.application2009-07-15-
dc.date.registration2011-03-15-
dc.publisher.countryKO-
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CH-Patent(특허)
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