Showing results 1 to 2 of 2
Comparison of Slowness Profiles of Lamb Wave with Elastic Moduli and Crystal Structure in Single Crystalline Silicon Wafers 민영재; 윤경원; 김경민; 노유지; 김영환, 비파괴검사학회지, v.36, no.1, pp.1 - 8, 2016-02 |
대구경 선집속 초음파 탐촉자를 이용한 실리콘 판재의 결정방향 측정 오재원; 정인영; 한규범; 김동현; 김영환, JOURNAL OF THE KOREAN SOCIETY FOR NONDESTRUCTIVE TESTING, v.37, no.3, pp.177 - 182, 2017-06 |
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