광 산란 패턴 검출 장치 및 광 산란 패턴 검출 방법APPARATUS FOR DETECTING LIGHT SCATTERING PATTERN AND METHOD FOR DETECTING LIGHT SCATTERING PATTERN
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박용근 | ko |
| dc.contributor.author | 이겨레 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T11:05:41Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T11:05:41Z | - |
| dc.date.issued | 2015-02-04 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/233425 | - |
| dc.description.abstract | 샘플에 대한 광 산란 패턴을 검출하는 광 산란 패턴 검출 장치가 제공된다. 일 실시 예에 의한 광 산란 패턴 검출 장치는, 상기 샘플에 빛을 조사하는 빛 소스, 상기 샘플로부터 산란되는 빛의 산란 패턴을 검출하는 검출기, 상기 샘플에 대한 빛의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경시키는 파면 제어기 및 복수 개의 변경된 조사 각도 각각에서 검출되는 복수 개의 산란 패턴을 합성하는 프로세서를 포함한다. | - |
| dc.title | 광 산란 패턴 검출 장치 및 광 산란 패턴 검출 방법 | - |
| dc.title.alternative | APPARATUS FOR DETECTING LIGHT SCATTERING PATTERN AND METHOD FOR DETECTING LIGHT SCATTERING PATTERN | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 박용근 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이겨레 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2013-0139105 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1492343-0000 | - |
| dc.date.application | 2013-11-15 | - |
| dc.date.registration | 2015-02-04 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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