공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경 및 그의 시편 변형성 측정 방법COMMON-PATH 3-DIMENSION DIFFRACTION LIGHT MICROSCOPY AND METHOD FOR MEASURING DEFORMABILTY OF SAMPLE

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dc.contributor.author박용근ko
dc.contributor.author김영찬ko
dc.date.accessioned2017-12-20T09:13:26Z-
dc.date.available2017-12-20T09:13:26Z-
dc.date.issued2015-10-21-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/232224-
dc.description.abstract3차원 굴절률 분포와 시편의 막 떨림을 모두 분석할 수 있는 공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경 및 그의 시편 변형성 측정 방법이 개시된다. 공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경은, 광선(beam)을 방사하는 광원, 광선이 시편(sample)에 입사하는 입사각을 변경하고, 입사각이 변경됨에 따라 달라진 광축을 보정하는 렌즈부, 시편을 투과한 광선들 간의 간섭 무늬를 측정하는 카메라부, 및 간섭 무늬에 기초하여 시편의 3차원 굴절률 분포를 계산하고, 시편의 막 떨림을 분석하는 분석부를 포함할 수 있다.-
dc.title공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경 및 그의 시편 변형성 측정 방법-
dc.title.alternativeCOMMON-PATH 3-DIMENSION DIFFRACTION LIGHT MICROSCOPY AND METHOD FOR MEASURING DEFORMABILTY OF SAMPLE-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor박용근-
dc.contributor.nonIdAuthor김영찬-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2014-0078107-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1563810-0000-
dc.date.application2014-06-25-
dc.date.registration2015-10-21-
dc.publisher.countryKO-
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