내부 지터 생성부를 갖는 내부 지터 허용치 테스트 장치INTERNAL JITTER TOLERANCE TESTER WITH AN INTERNAL JITTER GENERATOR
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 배현민 | ko |
| dc.contributor.author | 이준영 | ko |
| dc.contributor.author | 박진호 | ko |
| dc.contributor.author | 김태호 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T08:48:23Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T08:48:23Z | - |
| dc.date.issued | 2016-01-05 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/231970 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명의 일실시예들은 내부 지터 허용치 테스트 장치(an internal jitter tolerance tester)에 관한 것이다. 내부 지터 허용치 테스트 장치는, 위상 검출부의 출력, 이득 곱셈부, 내부 누적 지터 생성부(또는 내부 정현파 지터 생성부), 및 위상 회전부(또는 DCO)를 누적하는 사이클릭 누적부로 구성된 디지털 루프 필터를 포함할 수 있다. 상기 내부 누적 지터 생성부는, PRBS 생성부, 디지털 루프 필터, 누적부, 및 이득 제어부를 포함할 수 있다. 누적 지터 생성부는 또는 내부 정현파 지터 생성부를 대체될 수 있다. 내부 정현파 지터 생성부는, 카운터, 정현파 지터 프로파일 룩업 테이블, 및 이득 제어부를 포함할 수 있다. | - |
| dc.title | 내부 지터 생성부를 갖는 내부 지터 허용치 테스트 장치 | - |
| dc.title.alternative | INTERNAL JITTER TOLERANCE TESTER WITH AN INTERNAL JITTER GENERATOR | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 배현민 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이준영 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박진호 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김태호 | - |
| dc.contributor.assignee | 주식회사 긱옵틱스테라스퀘어코리아,한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2014-0141667 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1584454-0000 | - |
| dc.date.application | 2014-10-20 | - |
| dc.date.registration | 2016-01-05 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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