간섭 채널 환경에서의 저밀도 패리티 검사를 이용한 오류 정정 방법 및 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치Error Correcting Methods and Circuit Using Low-Density Parity-Check over Interference Channel Environment, Flash Memory Device Using the Circuits and Methods

Cited 0 time in webofscience Cited 0 time in scopus
  • Hit : 202
  • Download : 0
간섭 채널 환경에서의 저밀도 패리티 검사를 이용한 오류 정정 방법 및 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치를 공개한다. 본 발명은 채널에 대한 통계적 분석이 이루어진 상기 채널을 통해 전송되는 신호의 오류 정정 방법에 있어서, 복수개의 신호가 수신되는 단계, 상기 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속적하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 상기 통계적 분석에 따라 계산되는 단계, 상기 제1 신호의 값이 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 고려되는 대수 우도비를 이용하여 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별되는 단계, 및 값이 판별된 상기 제1 신호가 누적되고, 누적된 복수개의 상기 제1 신호의 값이 저밀도 패리티 검사 부호에 의해 정정되는 단계를 포함한다. 따라서, 수신된 데이터의 값을 간섭의 영향을 미리 고려하여 연판정한 후, 저밀도 패리터 검사를 수행하므로 데이터를 정확하게 복구 할 수 있다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2014-08-04
Application Date
2012-06-05
Application Number
10-2012-0060605
Registration Date
2014-08-04
Registration Number
10-1428849-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/231655
Appears in Collection
EE-Patent(특허)
Files in This Item
There are no files associated with this item.

qr_code

  • mendeley

    citeulike


rss_1.0 rss_2.0 atom_1.0