초분광 이미징 시스템HYPERSPECTRAL IMAGING SYSTEM
초분광 이미징 시스템은, 입사광을 제1방향과 제2방향으로 분리하는 빔 스플리터, 상기 제1방향으로 분리된 빛의 경로에 위치하고, 제1 스펙트럼 영역 중 설정된 범위의 빛을 통과시키는 제1영역 필터, 상기 제2방향으로 분리된 빛의 경로에 위치하고, 제2 스펙트럼 영역 중 설정된 범위의 빛을 통과시키는 제2영역 필터, 상기 제1영역 필터를 통과한 빛의 세기를 측정하는 제1카메라, 그리고 상기 제2영역 필터를 통과한 빛의 세기를 측정하는 제2카메라를 포함한다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2016-06-14
- Application Date
- 2014-10-31
- Application Number
- 10-2014-0150251
- Registration Date
- 2016-06-14
- Registration Number
- 10-1632067-0000
- Appears in Collection
- CS-Patent(특허)
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