대면적 방전 스캔 장치 및 이를 이용한 패턴의 형성방법Discharge scan apparatus for large area and method for fabrication of pattern using the same

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dc.contributor.author김필남ko
dc.contributor.author신현재ko
dc.date.accessioned2017-12-20T01:53:00Z-
dc.date.available2017-12-20T01:53:00Z-
dc.date.issued2016-12-30-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/230116-
dc.description.abstract본 발명은 대면적 방전 가공을 수행하기 위한 사각형 면을 갖는 단자를 포함하는 스캔부; 접지된 상태인 방전판; 및 상기 스캔부 및 방전판에 0.03 kW 내지 1.0 kW의 출력을 가하기 위한 출력부;를 포함하는 대면적 방전 스캔 장치를 제공한다. 본 발명에 따른 대면적 방전 스캔 장치는 대면적에 균일하게 방전 가공을 수행하여 원하는 패턴을 형성할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 대면적 방전 스캔 장치를 사용한 패턴의 형성방법은 일반적인 패턴, 계층 구조 패턴, 구배를 가지는 패턴 등을 형성할 수 있다. 이는 금속 와이어를 이용하여 실험실 단위에서 표면 구조를 형성하는 종래 기술보다 산업상 이용 가능한 진보된 방법이다.-
dc.title대면적 방전 스캔 장치 및 이를 이용한 패턴의 형성방법-
dc.title.alternativeDischarge scan apparatus for large area and method for fabrication of pattern using the same-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor김필남-
dc.contributor.nonIdAuthor신현재-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2014-0144001-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1693286-0000-
dc.date.application2014-10-23-
dc.date.registration2016-12-30-
dc.publisher.countryKO-
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BiS-Patent(특허)
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