DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 박현철 | ko |
dc.contributor.author | 김동호 | ko |
dc.contributor.author | 김남식 | ko |
dc.contributor.author | 이예훈 | ko |
dc.contributor.author | 유철우 | ko |
dc.date.accessioned | 2017-12-20T01:29:10Z | - |
dc.date.available | 2017-12-20T01:29:10Z | - |
dc.date.issued | 2008-06-24 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/229824 | - |
dc.description.abstract | 본 발명은 저밀도 패리티 검사 부호의 패리티 검사 행렬 생성 방법에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명의 패리티 검사 행렬 생성기는 상기 저밀도 패리티 검사 부호의 부호율을 결정하고, 상기 결정된 부호율을 고려하여 적어도 두 개의 정수거리순환행렬들을 생성하고, 상기 적어도 두 개의 정수거리순환행렬들을 조합하여 기저 행렬을 생성하고, 상기 저밀도 패리티 검사 부호에서 지원 가능한 모든 부호율 각각에 대응하는 적어도 하나의 부행렬을 미리 정의하고, 상기 기저 행렬 내의 원소들 중 값이 1인 원소들을 상기 결정된 부호율에 대응하여 정의되어 있는 부행렬로 치환하여 패리티 검사 행렬을 생성하는 과정을 포함한다. 그리고 상기 정수거리순환행렬은 각 행 내에서 값이 1인 원소들의 개수는 동일하며, 첫 번째 행 내에서 값이 1인 원소들의 위치가 결정될 시 그 이후 행 내에서 값이 1인 원소들의 위치가 해당 행의 순서를 고려한 순환 쉬프트 기법에 의해 결정된다.저밀도 패리티 검사 부호(LDPC code), 준-순환 저밀도 패리티 검사 부호(QC LDPC), 패리티 검사 행렬, 부행렬, 블록 행렬 | - |
dc.title | 저밀도 패리티 검사 부호의 패리티 검사 행렬 설계 방법 | - |
dc.title.alternative | METHOD FOR CONSTRUCTING PARITY CHECK MATRIX OF LOWDENSITY PARITY CHECK CODE | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 박현철 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김동호 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김남식 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 이예훈 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 유철우 | - |
dc.contributor.assignee | 삼성전자주식회사,한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2006-0100845 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0842597-0000 | - |
dc.date.application | 2006-10-17 | - |
dc.date.registration | 2008-06-24 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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