실리콘 에피택시 층을 적용한 고품질의 다결정 실리콘박막의 제조방법 및 다결정 실리콘 박막을 포함하는전자소자(The method for fabricating high-quality polycrystallinesilicon thin films by applying the epitaxial siliconlayer and electronic device comprising the same)

Cited 0 time in webofscience Cited 0 time in scopus
  • Hit : 303
  • Download : 0
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.author안병태ko
dc.contributor.author이승렬ko
dc.date.accessioned2017-12-18T04:36:49Z-
dc.date.available2017-12-18T04:36:49Z-
dc.date.issued2007-12-11-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/228018-
dc.description.abstract본 발명은 고품질의 다결정 실리콘 박막을 제조하는 방법에 관한 것으로, 다결정 실리콘 박막 위에 실리콘 에피택시 (Silicon epitaxy) 층을 성장시켜 결정화된 다결정 실리콘 박막 표면에 존재하는 금속 오염과 결정 결함을 줄이고 고품질의 다결정 실리콘 박막을 제조함으로써 그 위에 제조되는 소자의 특성을 향상시키는 방안을 제시한다.-
dc.title실리콘 에피택시 층을 적용한 고품질의 다결정 실리콘박막의 제조방법 및 다결정 실리콘 박막을 포함하는전자소자-
dc.title.alternative(The method for fabricating high-quality polycrystallinesilicon thin films by applying the epitaxial siliconlayer and electronic device comprising the same)-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor안병태-
dc.contributor.nonIdAuthor이승렬-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2006-0091310-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-0786801-0000-
dc.date.application2006-09-20-
dc.date.registration2007-12-11-
dc.publisher.countryKO-
Appears in Collection
MS-Patent(특허)
Files in This Item
There are no files associated with this item.

qr_code

  • mendeley

    citeulike


rss_1.0 rss_2.0 atom_1.0