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Reliability study and effect of NH3 annealing on the electrical characteristics of polysilicon thin film transistors = 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 신뢰성 연구 및 암모니아 열처리가 전기적 특성에 미치는 영향link Choi, Duk-Sung; 최득성; et al, 한국과학기술원, 1995 |
(The) modeling of electrical characteristics for polysilicon thin film transistors = 다결정 박막 트랜지스터의 전기적 특성 모델링link Yang, Gi-Young; 양기영; et al, 한국과학기술원, 1999 |
다결정 실리콘을 사용한 새로운 수직구조 트랜지스터의 제작 및 특성 평가 = Fablication and characterization of a novel vertical submicron polycrystalline silicon FETlink 이가원; Lee, Ga-Won; 이희철; 한철희; et al, 한국과학기술원, 1996 |
저온 공정을 사용한 ECR $N_2O$-플라즈마 산화막을 가지는 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 EEPROM 소자 = A polysilicon thin film transistor EEPROM cell with ECR $N_2O-plasma$ oxide using low temperature processlink 오정훈; Oh, Jung-Hoon; et al, 한국과학기술원, 1999 |
활성영역이 유리 기판 내에 매몰된 새로운 구조의 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 = Novel TFT with active layer buried in glass substratelink 한기호; Han, Ki-Ho; 김충기; 한철희; et al, 한국과학기술원, 1996 |
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