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Electrical characterization of interface property in Pt/(Ba, Sr)$TiO_3$/Pt structure for DRAM storage capacitor = DRAM 저장용 캐패시터를 위한 Pt/(Ba,Sr)$TiO_3$/Pt 구조에서의 계면의 전기적 특성 평가link Kwak, Dong-Hwa; 곽동화; et al, 한국과학기술원, 1998 |
Quantum mechanical calculation of hole tunneling gate leakage current in nanoscale pMOSFETs = P형 모스펫에서의 홀 터널링에 의한 게이트 누설전류의 양자역학적 시뮬레이션link Park, Ki-Hoon; 박기훈; et al, 한국과학기술원, 2013 |
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