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Lateral probing method and monolithically fabricated probes for minimization of damage on the solder of fine pitch micro-bumps = 미세 간격 마이크로-범프의 접합부 손상을 최소화하기 위한 측면 프로빙 방법과 단일 기판 공정 프로브의 제작link Kim, Chang Keun; Yoon, Jun Bo; et al, 한국과학기술원, 2017 |
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